30 ноября крупнейший в мире производитель электронных микроскопов японская фирма «Jeol» совместно с дилером исследовательской техники в России фирмой «Tokyo Boeki Ltd» проводит однодневный семинар на базе Южно-Уральского государственного университета. На семинаре будут представлены доклады специалистов фирмы «Jeol» о новых разработках в области растровой и просвечивающей электронной микроскопии, рациональных и эффективных методов использования установленной техники, новых приемах и методах проведения исследований. Так же будет продемонстрирован опыт работы на растровом электронном микроскопе «Jeol» JSM-6460LV, имеющим три аналитические приставки: энергодисперсионную (EDC), волновую дисперсионную (WDC), дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD). Желающие могут привезти с собой небольшое количество образцов для пробного анализа. Образцы для анализа должны представлять собой твердые вещества, имеющие чистые поверхности изломов, либо полированные поверхности. Образцы для определения степени текстурирования должны быть изготовлены в виде отшлифованных и травленных фольг. Размер образцов — порядка 1 см во всех измерениях, возможность отклонения в одном из измерений на 2-5 мм. Семинар рассчитан на специалистов в области электронной микроскопии, аспирантов, студентов старших курсов материаловедческих специальностей, научных сотрудников и организаторов научных исследований. Начало работы семинара в 10.00 в аудитории 1010 главного учебного корпуса. Телефон для связи (351) 267-93-11. Менеджер семинара Михайлова Эльвира Николаевна Адрес ЮУрГУ г. Челябинск, пр. Ленина, 76. Проезд автобусами, троллейбусами и маршрутными такси в сторону ПКиО до остановки «Южно-Уральский государственный университет (ЮУрГУ)».
